显微透光率检测仪SY-TS120

双耀科技SY-TS120是一台专门用于手机盖板IR孔检测的高性能透过率检测仪,适用于微小区域平面滤光片的显微透过率测量,如手机面板上IR小孔的透过率检测,遥控器透过率检测,使用特殊光路设计,大大增强光路耦合效率,使得能量比普通显微光路增强10倍,此优异的性能满足积分球检测的条件,故仪器采用积分球检测,不存在普通镜头采集所产生的离焦色差问题,检测信号更加准确。

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  •        双耀科技SY-TS120是一台专门用于手机盖板IR孔检测的高性能透过率检测仪,适用于微小区域平面滤光片的显微透过率测量,如手机面板上IR小孔的透过率检测,遥控器透过率检测,使用特殊光路设计,大大增强光路耦合效率,使得能量比普通显微光路增强10倍,此优异的性能满足积分球检测的条件,故仪器采用积分球检测,不存在普通镜头采集所产生的离焦色差问题,检测信号更加准确。


    ² 核心技术:

    Ø  宽波段消色差技术:经过特殊光学设计在400nm-1000nm波段内色差控制非常好;

    Ø  显微共聚焦技术:采集光学系统仅接受透过样品的光波,提高检测结果准确性;

    Ø  大数值孔径技术:才用0.22光纤接入和采集;

    Ø  积分球采集技术:解决离焦色差问题,总检测时间约100ms-200ms;

    Ø  底部反向照明技术:底部采用照明/采样系统切换结构。


    ² 软件特点:

    Ø  产品规格可录入数据库,测试可直接调取进行快速检测;

    Ø  自定义代测产品检测波长,自定测试上下限;

    Ø  自动保存数据于本地磁盘数据库,不清空以往测试记录;

    Ø  具有自动产能分析报表功能;

    Ø  配套232、IO串口输出信号,可以高度配合自动化设备;

    Ø  可开放对接接口进行二次开发,信号协议更变等。


    ² 规格参数:


           双耀科技SY-TS120是一台专门用于手机盖板IR孔检测的高性能透过率检测仪,适用于微小区域平面滤光片的显微透过率测量,如手机面板上IR小孔的透过率检测,遥控器透过率检测,使用特殊光路设计,大大增强光路耦合效率,使得能量比普通显微光路增强10倍,此优异的性能满足积分球检测的条件,故仪器采用积分球检测,不存在普通镜头采集所产生的离焦色差问题,检测信号更加准确。


    ² 核心技术:

    Ø  宽波段消色差技术:经过特殊光学设计在400nm-1000nm波段内色差控制非常好;

    Ø  显微共聚焦技术:采集光学系统仅接受透过样品的光波,提高检测结果准确性;

    Ø  大数值孔径技术:才用0.22光纤接入和采集;

    Ø  积分球采集技术:解决离焦色差问题,总检测时间约100ms-200ms;

    Ø  底部反向照明技术:底部采用照明/采样系统切换结构。


    ² 软件特点:

    Ø  产品规格可录入数据库,测试可直接调取进行快速检测;

    Ø  自定义代测产品检测波长,自定测试上下限;

    Ø  自动保存数据于本地磁盘数据库,不清空以往测试记录;

    Ø  具有自动产能分析报表功能;

    Ø  配套232、IO串口输出信号,可以高度配合自动化设备;

    Ø  可开放对接接口进行二次开发,信号协议更变等。


    ² 规格参数:


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